半導(dǎo)體測試探針主要應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓測試、成品測試的環(huán)節(jié)，是連通芯片/晶圓與測試設(shè)備進(jìn)行信號(hào)傳輸?shù)暮诵牧悴考?，他對半?dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制起著重要的作用

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